Semicansoft薄膜測(cè)量系統(tǒng)MProbe 20

MProbe 20是一種用于全球數(shù)千個(gè)應(yīng)用的薄膜厚度測(cè)量臺(tái)式系統(tǒng)。它只需單擊鼠標(biāo)即可測(cè)量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地測(cè)量1nm至1mm的厚度，包括多層膜堆疊。不同的MProbe 20模型主要通過(guò)光譜儀的波長(zhǎng)范圍和分辨率來(lái)區(qū)分，這反過(guò)來(lái)決定了可以測(cè)量的材料的厚度范圍和類(lèi)型。該測(cè)量技術(shù)基于光譜反射——快速、可靠且無(wú)損。

• 靈活：模塊化薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)：為您的應(yīng)用選擇更好配置，并在需要時(shí)輕松升級(jí)
• 精度：<0.01nm或0.01%
• 材料：500+擴(kuò)展材料數(shù)據(jù)庫(kù)
• 軟件：用戶(hù)友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復(fù)雜的應(yīng)用程序。層數(shù)無(wú)限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
• 集成：輕松集成TCP服務(wù)器
• 實(shí)時(shí)、一鍵測(cè)量和分析
• 測(cè)量歷史：調(diào)用/顯示測(cè)量結(jié)果和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

產(chǎn)地：美國(guó)

精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上進(jìn)行100次測(cè)量的s.d.）

<1nm或0.2%（依賴(lài)于膠片堆棧）

穩(wěn)定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天測(cè)量）

測(cè)量厚度：1nm至1mm

光斑尺寸：<1mm

樣品尺寸：>=10mm

主機(jī)：包括光譜儀、光源、光控制器微處理器

樣品臺(tái)：SH200A

探頭：光纖反射

測(cè)試樣品：200nm氧化硅或PET薄膜

電纜：USB或LAN

電源適配器：24VDC

電壓：110/220V