Quasar 頭的靈敏度是以前的探測(cè)器的兩倍,比原來(lái)的 ELTP 光測(cè)試儀好 20 倍。 采用新的內(nèi)部處理器電子器件、改進(jìn)的振動(dòng)抑制、新一代的高性能傳感器和新的探測(cè)器光學(xué)器件。
新的 ELTP 可檢測(cè)端板上的 1 微米測(cè)試孔。由于面板、刻痕或卡盤(pán)壁上的撕裂或針孔以及分裂鉚釘導(dǎo)致的實(shí)際生產(chǎn)泄漏,其檢測(cè)成功率高于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的系統(tǒng)。如果剪裁卷曲和復(fù)合斑點(diǎn)缺陷大到足以影響末端周?chē)墓饷芊?,則它們也會(huì)被檢測(cè)到。該系統(tǒng)甚至可以檢測(cè)到一些間接光路。
測(cè)試能力:1 微米激光在端板上鉆孔測(cè)試孔(實(shí)際檢測(cè)取決于生產(chǎn)變量)
運(yùn)行速度1高達(dá) 1000 次/分鐘(詳細(xì)規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系 Sencon)
圓端尺寸1 112 至 603 / 44.5?mm 至 153?mm 使用皮帶袋轉(zhuǎn)移
其他尺寸和非圓形聯(lián)系 1 Sencon 討論其他尺寸和非?-?圓形
ELTP 已成功安裝在全球多種類(lèi)型的飲料端轉(zhuǎn)換壓機(jī)以及各種食品端壓機(jī)上。根據(jù)客戶(hù)規(guī)格,還為其他尺寸和非圓形形狀制作了專(zhuān)用系統(tǒng)。