新型的LSP-X1 掃描測頭,既能夠提供高精度測頭的精密計量工具,又能夠和TESASTAR-m 自動分度測座完美匹配。點到點和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容,是中等尺寸的楞邊復雜型和曲面復雜型工件的理想檢測方案。LSP-X1具有兩種吸盤,并且可以支持長達220mm 以內(nèi)的各種探針。吸盤的自動更換可以通過TESASTAR-r 自動更換架實現(xiàn),也可以通過專門的支架僅僅更換探針。這種磁吸測頭系統(tǒng)能夠快速和高重復性的完成更換。
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