HTOL(高溫工作壽命)是一種測試方法,旨在在較長時間內(nèi)對設(shè)備施加壓力,從而可以計算設(shè)備的長期可靠性。該測試適用于廣泛的元件制造應(yīng)用,尤其是 IC 制造商,包括放大器、濾波器和收發(fā)器。該概念需要一個高功率信號源和一個射頻分配器系統(tǒng),以在大量 DUT(被測設(shè)備)通道上并行分配測試信號,從而可以對可靠性進行統(tǒng)計上的計算。
HTOL-700-2700-1W 是一款現(xiàn)成的集成測試系統(tǒng),專為 HTOL/老化測試應(yīng)用而設(shè)計。完整的設(shè)置在一個標準的 19 英寸機柜中提供,能夠在 700-2700 MHz 頻段以 1W 的功率驅(qū)動 80 個并行 DUT。信號源可通過 USB 或以太網(wǎng)控制(支持 HTTP 和 Telnet 網(wǎng)絡(luò)協(xié)議)。提供完整的軟件支持,包括我們用于 Windows 的用戶友好的 GUI 應(yīng)用程序和帶有 Windows 和 Linux 環(huán)境編程說明的完整 API。
電源:交流電源輸入(90-260 V,47-63 Hz)
工作溫度:0 至 +50 ºC
射頻連接器
控制板:前面板
連接器:SMA 母頭
數(shù)量:80
功能:被測設(shè)備連接
尺寸:19” (W) x 37U (H) x 20” (D)
高溫工作壽命 (HTOL)
大功率老化/射頻壓力測試
半導(dǎo)體/元件鑒定
大功率信號源和分配
EMC/EMI 測試